您现在所在位置:首页 > 合作案例 > 高性能测试款

经典测试款

高性能测试款

超大规模矩阵开关测试系统

S2035高性能半导体测试系统

发布日期:2024-10-30 07:46:32浏览次数:207

S2035 高精度SMU

l 直流IV测试

±200V/1A 量程

最高20W输出功率

最小电流分辨率0.1fA

30uV电压测量精度

四象限操作

l 脉冲IV测试

±200V/3A 量程

30uV电压测量精度

最小脉冲宽度50us

l 瞬态时域测试

任意波形输出,最高采样率1.8MS/s

最小10us时间步进

采样点数可达百万


image.png

19101616461